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DEI离散输入评估板：航空电子与高压信号采集的可靠测试平台

发布时间：2025-08-21 08:41:53     浏览：3442

　　在航空电子、工业自动化及高可靠性系统中，离散信号(如开关状态、传感器信号)的准确采集与数字化处理至关重要。为满足这一需求，Device Engineering Incorporated (DEI)推出了DEI128x系列离散输入评估板，专门用于测试和验证其高性能离散输入集成电路(IC)。该评估板兼容多种DEI IC型号，支持高压环境下的信号采集、抗干扰测试及灵活配置，是工程师开发高可靠性系统的理想工具。

DEI离散输入评估板：航空电子与高压信号采集的可靠测试平台

　　产品目的

　　用途：测试和评估DEI公司多种离散输入接口芯片(Discrete Input ICs)。

　　兼容性：新IC设计尽可能保持引脚兼容(如DEI1282与DEI1284)。

　　支持评估的芯片列表

型号功能描述
DEI1026A6通道，检测OPEN/GND，符合ABD0100标准。
DEI10546通道，检测28V/OPEN。
DEI10668通道，GND/OPEN检测，SPI输出，符合ABD0100。
DEI10678通道，GND/OPEN检测，SPI输出，符合ARINC 735A和ABD0100。
DEI11608通道，可编程检测GND/OPEN或28V/OPEN，SPI接口。
DEI11668通道，GND/OPEN检测，并行输出，5V-18V供电。
DEI11678通道，GND/OPEN检测，并行输出，固定12V供电。
DEI11848通道，可编程检测，符合ABD0100H高压保护标准。
DEI11888通道，GND/OPEN检测，SPI接口，符合ABD0100H阈值和迟滞要求。
DEI11988通道，GND/OPEN检测，并行三态总线输出，高防雷击瞬态抗扰度（需外接电阻/TVS）。
DEI1282/12848通道，可配置为GND/OPEN或28V/OPEN，SPI接口，内置自检（BIT）。1284需外接3kΩ电阻和TVS以实现Level 4/5防雷击保护。

　　评估板功能

　　测试接口：

　　通过跳线(H1-H13)输入/监测信号，支持USBee AX?测试工具。

　　Vin(H1/H2)可外接电源，动态调整输入阈值。

　　保护电路：

　　电阻(R1-R15)可短路用于直接信号注入，或串联/TVS用于高压测试。

　　TVS器件(D1-D16)支持防雷击(如Level 3-5)。

　　驱动与开关：

　　ULN2803驱动器(U7/U8)提供GND/OPEN信号和FET(Q1-Q16)的栅极驱动。

　　FET开关支持±20V栅源电压和60V漏源电压，适用于28V/OPEN模式。

　　扩展功能：

　　支持DEI1282/1284的级联(通过J1/J2)。

　　应用场景

　　航空电子：验证飞控系统的28V/OPEN或GND/OPEN离散信号接口。

　　工业控制：测试PLC或传感器的高压开关信号兼容性。

　　研发调试：通过USBee AX?工具实时捕获SPI/并行数据，加速故障诊断。

深圳市新葡萄AMG创展科技有限公司，优势提供DEI高端芯片订货渠道，部分备有现货库存。

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